产品可靠性测试报告及数据!

从根本上减少过失，提高产品可靠性

Maxim和Dallas Semiconductor的每个型号都经过了可靠性测试，提供可靠性报告。Maxim在网站上公布了大量的测试报告，还可以根据用户要求提供产品报告。 2005年FIT率降至1.1。 我们提供三种类型的可靠性数据： 工艺流程可靠性：产品规格测试 产品可靠性：对已确定的可靠性性能进行工业标准测试 常规质量验证：关于每次测试、测试条件、失效率原始数据的综合报告
每个型号的产品可靠性报告提供以下信息： 有效期内失效率估计 ESD敏感度(人体模式) 工艺流程信息 器件门电路数 闭锁灵敏度 封装结构信息 欲获取更多信息，请访问QA/可靠性网页。