摘要：DS2780电流测量失调误差在很大程度上取决于电路板布局。应尽可能缩小测量环路，以降低电感效应对测量结果的影响。 概述 适当的电路板布局对于任何库伦计IC的电流测量精度非常关键。DS2780能够补偿与增益相关的电流测量误差，但不能补偿失调误差。为确保电流测量失调误差降至最小，本应用笔记给出了Dallas Semiconductor推荐的DS2780电路板设计准则。 应用电路 受电池包尺寸的限制，元件通常只能安装在PCB的一个层面。另外，较窄的PCB宽度一般限制在TSSOP8封装范围内，如DS2780，需沿着PCB长度方向安装元件。这实际上限制了元件安装的选择方案。图1所示电路给出了SNS和VSS的一个理想布线方案，检流电阻应该尽可能靠近IC安装，VSS和SNS之间应保持最小的环路区域，以降低引线之间的寄生电感。有时，在PCB的单层面上无法满足这一设计要求，图2给出了VSS和SNS需要通过不通电路板层布线时的最佳布局。如果没有很好地限制PCB的寄生电感，A/D失调误差将大于数据资料中给出的指标。 图1. 合理的电路板布局降低电流失调误差 图2. 多层板电路布局 结论 DS2780不能调节VSS阻抗或VSS寄生电感产生的电流测量失调误差，为尽可能消除这些影响，电路板设计中应该将VSS和SNS布线之间的环路间距降到最小。增益误差可通过软件校准，因此，增益精度不需要考虑布线问题。 我们期待您的反馈！ 喜欢？不喜欢？有待改善？或为我们提供建议？请与我们联系 — 我们将根据您的意见或建议改善我们的工作。 网页评价或提供建议 自动更新 需要自动接收最新发布的应用笔记吗？请订阅EE-Mail™ (English only)。 更多信息   APP 3406: Apr 25, 2005 DS2780 独立式电量计IC 完整的数据资料 (PDF, 444kB) 免费样品   下载，PDF格式 (41kB)  AN3406, AN 3406, APP3406, Appnote3406, Appnote 3406